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簡要描述:ALD 原子層沉積原理通過在工藝循環(huán)周期內(nèi)分步向真空腔內(nèi)添加前驅(qū)體、實現(xiàn)對膜層厚度的精確控制。區(qū)別于普通CVD或PECVD原理,ALD可沉積超薄的、無針孔和顆粒的膜層,例如在3D結(jié)構(gòu)上沉積幾個納米厚的薄膜,同時具有出色的均勻性和優(yōu)秀的保形比。
詳細介紹
品牌 | ZEISS/蔡司 | 應用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,化工,生物產(chǎn)業(yè),綜合 |
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ALD 原子層沉積原理通過在工藝循環(huán)周期內(nèi)分步向真空腔內(nèi)添加前驅(qū)體、實現(xiàn)對膜層厚度的精確控制。區(qū)別于普通CVD或PECVD原理,ALD可沉積超薄的、無針孔和顆粒的膜層,例如在3D結(jié)構(gòu)上沉積幾個納米厚的薄膜,同時具有出色的均勻性和優(yōu)秀的保形比。
■ 轉(zhuǎn)接腔預留兩個端口,可升級增加ICP刻蝕反應腔模塊與ICPECVD沉積反應腔模塊,原控制軟件無需升級即可控制ICP、ICPECVD模塊
■ 熱原子層沉積T-ALD模塊:配制臭氧管路:配置獨立的臭氧管路,包括臭氧發(fā)生器、質(zhì)量流量控制器
MFC、壓力傳感器等。臭氧發(fā)生量:≥ 6 g/h
■ 等離子增強原子層沉積PEALD模塊:配制臭氧管路:配置獨立的臭氧管路,包括臭氧發(fā)生器、質(zhì)量流量控制器MFC、壓力傳感器、氣體探測器、閥門、控制機箱等。臭氧發(fā)生量:≥ 6 g/h
SENTECH ALD系統(tǒng)特別適用于納米科技、微系統(tǒng)應用、無機和有機半導體工程、以及器件鈍化。
ALD 原子層沉積 工藝:
使用三甲基鋁 TMA和水沉積氧化鋁
TMA 化學吸附
吹掃循環(huán)
水化學吸附
吹掃循環(huán)
應用
n 電子器件的鈍化層
n 有機材料的擴散阻擋層
n 晶體硅電池的鈍化
n 黏附層
n 3D結(jié)構(gòu)的高保形比鍍膜
n 高k材料
n 光學鍍膜
n 擴散層
n 防腐蝕層
n 納米科技的功能層
n 生物醫(yī)學應用
SENTECH的原子層沉積腔室系統(tǒng)具有靈活的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)、適用于多種沉積模式和不同工藝。系統(tǒng)可升級更多的前驅(qū)體源和氣路、高真空泵、原位監(jiān)測和其他選項??稍谧畲笾睆?/span>200 mm的樣片上沉積氧化物(例如Al2O3,SiO2,HfO2, ZnO,ZrO2)、氮化物(例如AlN,Si3N4)、金屬等材料。除了標準熱ALD工藝,系統(tǒng)可擴展等離子體 源、實現(xiàn)低溫工藝。等離子增強原子層沉積系統(tǒng)(PEALD)在沉積工藝中使用氣體氧代替水作為氧化劑。一個電容耦合等離子體CCP源作為真正的遠程源、附在反應腔上部法蘭,沒有光線直接照射在樣片上。
PEALD沉積Al2O3膜:使用三甲基鋁TMA和等 離子生成氧原子(O),襯底溫度200°C,4 吋晶圓
厚度均勻性:33.3 nm ± 0.25 nm
折射率差異(632.8 nm):1.627 ± 0.0025
SENTECH等離子工藝操作軟件
反應腔帶下電極(紅)、前驅(qū)體柜(黃)、 氣路(綠)、真空泵系統(tǒng)(青)、單片預真空室(藍)和CCP等離子體源(紫)
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